题名
基于嵌入式Flash存储器内建自测试电路设计问题研究
DOI
10.12721/ccn.2022.157017
作者
袁野 咸爱国
作者单位
南京模拟技术研究所
摘要
嵌入式存储器需要具有故障测试功能，能够对故障实施自动检测，保障电路工作的稳定性。基于此，本文将从Flash结构、故障模型、内建自测技术、March-like算法、控制器模块等方面对嵌入式Flash存储器内建自测电路进行分析，使存储器具有良好的自测功能，对存储器故障进行排查，使其具有良好的工作状态。
关键词
嵌入式；Flash存储器；测试电路
刊名
设计研究
ISSN
3079-1316
年、卷(期)
20222
所属期刊栏目
工程技术
打印
