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配电网一二次融合开关二次部分的可靠性测试
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375
马建伟1
毕猛强2
贺翔1
徐铭铭1
朱剑鹏3
赵海洋3
《电路系统研究》
2019年4期
摘要:
通过搭建高电压温度环境箱和雷电压冲击测试平台模拟一次设备工况环境,从温度和电磁干扰两个方面进行二次部分的试验测试和数据分析。试验发现温度会导致二次部分功耗、电压、电流等电气量发生明显变化,雷电冲击造成高于1 kV的干扰电压会导致二次部分出现误动和死机等故障现象。测试结果可为配电网一二次融合成套设备的性能检测及评估提供参考依据。
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