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高效率低成本嵌入式闪存存储器的测试方案
作者:
钱亮
单位:
上海华虹计通智能系统股份有限公司
下载量:
23
浏览量:
308
全文下载:
PDF
DOI:
出刊日期:
2025-04-16
一种电容薄膜真空计检测电路的设计
作者:
康恒1,2,3
李勇滔1,3
李超波1,3
景玉鹏1,3
单位:
1.中国科学院微电子研究所;2.中国科学院大学;3.集成电路测试技术北京市重点实验室
下载量:
19
浏览量:
506
全文下载:
PDF
DOI:
出刊日期:
2025-04-15
数字集成电路测试技术应用
作者:
宋继海
单位:
中电商务(北京)有限公司
下载量:
185
浏览量:
927
全文下载:
PDF
DOI:
10.12721/ccn.2024.157431
出刊日期:
2025-03-13
集成电路测试的意义和作用
作者:
董淼
单位:
北京时代民芯科技有限公司,710075
下载量:
322
浏览量:
2389
全文下载:
PDF
DOI:
10.12721/ccn.2022.157224
出刊日期:
2025-03-11
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