摘要: 提出了一款低压线性稳压器LDO使能控制端失效分析过程,并以此为例详细阐述了芯片失效分析的过程和分析方法。通过对失效现象的测试分析,基本确认EN端失效的模式,再通过EMMI、FIB、仿真等技术手段,最终确认芯片的失效机理,对于LDO产品的设计、优化和分析有重要参考意义。