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掩模台水平向的二维衍射平面光栅测量模型验证
郝春晓1 张文涛1 王献英2 黄逊志2
1.桂林电子科技大学电子工程与自动化学院;2.上海微电子装备(集团)股份有限公司
摘要:
为了降低掩模台位置测量的位置误差,首先阐述了二维衍射平面光栅尺在掩模台上的布局与信号采集模块;然后运用两个二维衍射平面光栅尺建立掩模台位置测量模型;最后以双频激光干涉仪作为参考测量系统,对比两个测量系统的不确定度。实验证明:二维衍射平面光栅尺测量系统的不确定度比较低,可以有效地实现掩模台的三自由度位置超高精密测量。
关键词:
平面光栅尺;模型;自由度;误差
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