传统的快恢复二极管,为了缩短反向恢复时间,通常采用电子辐照来减小基区的少子寿命,但电子辐照在降低器件的反向恢复时间的同时,也使得其通态压降增大。本文采用双质子辐照的局域寿命控制的方法,利用SILVACO软件对二极管特性进行仿真研究,讨论局域低寿命区在二极管中的不同位置,对快恢复二极管的反向恢复电流,反向恢复软度因子,以及通态压降的影响,为快恢复二极管的实际生产提供理论依据。