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电子设备BIT技术设计研究 下载：121 浏览：1465

李鹏飞 《电气学报》 2023年4期

摘要:
电子设备测试BIT( Built In Test)技术是电子设备可测试性设计的重要组成部分，是隔离电子设备故障的重要手段。本文首先对国内外电子设备的BIT技术发展进行了分析介绍，对电子设备BIT设计要求、基本方法等进行系统的阐述说明，并对BIT技术的应用与发展进行了初步的研究。
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