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基于SRAM型FPGA的单粒子翻转故障注入技术研究 下载：83 浏览：975

孙晨阳 《核工业与技术》 2024年7期

摘要:
随着航天技术的快速发展，SRAM型FPG因其高度的灵活性和可重配置性在航天领域得到广泛应用。然而，空间环境中的高能辐射粒子易对SRAM型FPGA造成单粒子翻转（SEU）现象，影响其可靠性。为评估和提高FPGA的SEU防护能力，本文分别对采用TMR(Triple Modular Redundancy)防护设计的和未采用TMR防护设计的SRAM型FPGA乘法器模块进行了故障注入试验，验证了得到的敏感位位置的正确性，并计算出各自的可靠性参数和曲线。
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